集微网消息，据中新网报道，之江实验室、中国科学院微电子研究所(下称“中科院微电子所”)联合研究团队在新型架构安全芯片领域取得重要进展。

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图片来源：中新网

研究团队基于物理不可克隆技术(Physically Unclonable Function，PUF)，完成了2款新型硬件安全芯片的设计与验证，芯片相关指标达到国际先进水平。

据报道，之江实验室全职双聘副研究员杨建国介绍，“我们的研究主要是从硬件层面加固芯片安全，因为硬件具有更高的防篡改能力，可以提供比软件更高的信任度和安全性。”

相较于传统集成电路的PUF，基于阻变存储器RRAM的PUF具有功耗低、面积小、可靠性强、随机性好等特点，可以兼容CMOS工艺，与芯片设计无缝集成，且随机性不随工艺微缩而改变。

基于RRAM随机短期记忆时间等特性，之江实验室新型智能计算系统研究团队与中科院微电子所、复旦大学的研究人员合作，从随机源的物理模型出发，实现了完整的PUFIP的设计和验证。芯片测试结果显示其随机性接近理想值。经过对PUF产生的100M比特流的测试，该芯片通过了全部美国国家标准与技术研究所(NIST)的测试项。

下一步，之江实验室的科研团队将基于PUF芯片的研究基础，进一步研究突破存算一体化等新型架构芯片，从物理机制层面支撑新型计算范式的实现。（校对/图图）